測定干膜厚度的重要性在于保證涂覆達到規定的厚度，避免由于不適當的厚度導致涂層的過早失效。干膜厚度的測量，必須在涂膜完全干燥后，采用干膜測厚儀進行測定。常用的干膜測厚儀有：磁性測厚儀、固定探頭測厚儀、渦流儀和破壞性測厚儀。磁性厚度儀是目前廣泛應用的，其中有一種筆式測厚儀，用于現場檢查十分便捷，不用于精密檢查。測量時，必須使筆尖的磁探頭接觸并垂直于涂層表面，當彈簧的張力超過探頭對鐵基體的引力時，其筆尖端的磁探頭從涂層表面斷開，其分開瞬間的讀數為干膜厚度。

　　檢測時，測量點的選擇要注意分布的均勻性和代表性。對于大面積的平整表面每2m2測定一點，每點測定三次，計算算術平均值。焊縫、鉚釘等測定確有困難的部位可不予測定，但為防止涂裝過薄應手工刷涂一遍。對于面積較小的區域或部件，需保證每一面應有三個以上的檢測點。對干膜厚度的要求一般如下：所有厚度測定點的平均值不應低于規定干膜厚度的90；未達到規定干膜厚度的測定點數目不應超過測定點總數的10。未達到規定厚度者應進行如下處理：合格率低于80，需全面補涂一道。合格率為80~90，應根據情況做局部涂漆；焊縫、鉚釘部位必須重涂一道涂料。許多涂層膜厚超過規定標準，一般都不成問題，但帶來了涂料的過多損耗和涂裝經費的增加。但高膜厚不能產生過度的流掛、起皺或龜裂等缺陷。由于涂層過厚會影響溶劑的揮發和完全干燥，以及下一涂層的固化，應予以注意。當膜厚超過規定較大干膜厚度的10，應設法解決。

膜厚儀與涂層測厚儀的差別

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層.

兩者是只是根據材料有細微區別，不過現在使用者很多不了解，也相互稱呼。