金屬光譜分析儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應用于冶金、機械及其他工業部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產品檢驗，是控制產品質量的有效手段之一。能對金屬材料中化學元素成份作檢測；可對鐵基、鋁基、銅基、鎳基等廣泛元素作定量。
折返式前光路設計，使光路結構更加緊湊；方便可拆卸的光窗及入射狹縫設計，使維護清潔更加簡單。 出射狹縫采用德國高精度加工中心整體加工，包括所有可能用到的120個分析通道定位，可以滿足各種基體元素分析；這種設計方式，為以后增加通道帶來方便。 鋁合金整體光學室與特制加熱恒溫設計，確保光學室系統長期穩定性。
氬氣流沖洗確保光學系統潔凈，減少定期檢修次數。根據應用不同，光學室可以用真空及非真空狀態。軟件系統操作簡單，但功能強大，許多分析和校準功能都是自動的，提示并引導操作者分步完成。對于有經驗的光譜用戶，該軟件提供基礎計算和參量修改設置，特別是針對曲線擬合的可視化編輯方面。
技術性能及參數
1.分光室設計
帕邢-龍格結構
恒溫控制（34℃±0.5℃）
材質鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發光源
全數字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
無待機流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機功率40 W
金屬光譜分析儀能對金屬材料中化學元素成份作檢測；可對鐵基、鋁基、銅基、鎳基等廣泛元素作定量。
天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產金屬產品的*設備。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
國際供應商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力
光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
工作條件
工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70%
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體
技術性能及指標
1. 分光室設計
帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm
波長范圍140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒溫33℃±0.2℃
材質鑄造，保證光室形變小
間歇式真空系統，可保證真空泵運行時間小于5%
2. 凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級光譜線色散率：1.04 nm/mm
3. 檢測器
高性能線陣CMOS
4. 分析時間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
5. 激發光源
光電直讀光譜儀
傳統的光譜檢測系統為單色儀家光電倍增管（PMT）。20世紀70年代以來，人們欲利用光電二級管陣列（SPDA）等光電傳感器以建立三維光譜圖，并發展相應的處理技術。SPDA不僅能獲得某一波段范圍內的檢測信息，還具有靈活的積分能力，但是它的靈敏度和動態范圍不及PMT，而且噪聲較大，線性范圍窄，暗電流也大，而CCD卻彌補了這些缺點。
CCD具有與光譜儀器密切相關的一些特性：
（1）靈敏度高，噪聲低。CCD器件具有很高的量子效率，至少為10%，可達90%以上。它的電荷轉移率幾乎達，它在低溫下工作時幾乎無暗電流，噪聲幾乎接近于零，新的CCD器件，已經實現了在常溫下具有很高的信噪比，極低的暗電流，完全滿足了儀器在常溫及微量分析上的要求，上述優點使CCD器件的靈敏度超過其他探測器（如PMT何SPDA），檢測下限達pg級甚至fg級。
（2）光譜范圍寬（200~1050nm）。在可見光區（400~500nm）量子效率可高達90%，在遠紫外區（200nm）和近紅外（100nm）間，量子效率至少為10%，在100~1100nm寬的光譜區域，CCD都有很高的量子效率，而大多數的發射、吸收和散射的光譜儀器這區域工作，因此CCD成為各類光譜儀器的理想探測器。
（3）動態線性響應范圍寬，達10個數量級。CCD具有很寬的響應范圍和理想的響應線性，達10個數量級（10?-106），而且在整個動態響應范圍內，都能保持線性響應，這對光譜定量分析具有特別意義。
（4）幾何尺寸穩定，耐過度曝光。CCD經長時間運轉，其幾何性能、熱性能和電性能均很穩定，不怕過度曝光，因此比PMT結實耐用。
（5）可以同時多道采樣，得到波長-強度-時間的三維譜線圖，與光電陰極器件聯用，可觀察X射線圖像。
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