產(chǎn)品名稱：XRF檢測全元素設(shè)備
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
 
應(yīng)用領(lǐng)域
 
XRF檢測全元素設(shè)備廣泛應(yīng)用于鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）
 
廠家介紹
 
江蘇天瑞儀器股份有限公司，是生產(chǎn)x 鍍層測厚儀廠家，分析儀器上市公司（代碼：300165），產(chǎn)品打破了國外壟斷的局面，在電鍍行業(yè)中得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。
同時公司還生產(chǎn)ROHS檢測儀，XRF檢測設(shè)備，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，x射線測厚儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS檢測設(shè)備，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，EDX0B,ROHS檢測儀，首先ROHS檢測儀廠家，ICP光譜分析儀，ROHS2.0新增4項分析儀等。

ROHS設(shè)備適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測，鉛（Pb）、（Hg）、鎘（Cr）、鉻（Cd）、溴（Br）、氯（Cl）控制的利器。
ROHS設(shè)備介紹：
EXF-10A是具有三重X射線防護(hù)措施；人性化的操作界面；應(yīng)用算法、FP法、經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法分析軟件。滿足RoHS/WEEE相關(guān)管控要求，完全符合國際電工會IEC62321標(biāo)準(zhǔn)及環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。
EXF-10A適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測，鉛(Pb)、(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。
ROHS設(shè)備產(chǎn)品特點：
1、無損檢測，可對電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。
2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。
3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護(hù)開關(guān)設(shè)計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀。
4、配備XY軸可平臺，方便樣品點選測試。
5、點擊軟件電動自動開關(guān)樣品腔蓋，無需手動打開關(guān)閉，人性化操作！
6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準(zhǔn)確性，無需耗材。
7、ling先的超短光路設(shè)計，配套特有的光管管控程序，更有效X光管壽命。良好的散熱系統(tǒng)，更能保證儀器的超長使用。
8、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，的樣品成像準(zhǔn)直系統(tǒng)，實現(xiàn)對樣品的準(zhǔn)確點測。
9、平臺：精細(xì)的自動平臺，方便定位測試點。
10、準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動自動切換，滿足各種物質(zhì)測試方式的應(yīng)用。
11、國際ling先的數(shù)據(jù)分析方法，測量結(jié)果更穩(wěn)定、。
12、分析軟件： ROHS/無鹵分析軟件。
13、配備商用電腦及打印機，可以隨時打印報告，可更直觀的了解測試數(shù)據(jù)。
技術(shù)參數(shù)：

測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍:鋁（Al）－鈾（U）
含量分析范圍：1ppm～99.99%
測試時間：60～300秒（可根據(jù)需要時調(diào)節(jié)）
能量分辨率：139eV5EV
多道分析器：2048通道
X射線發(fā)生器：材可選Ag、Rh、W、Mo，性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率，實現(xiàn)更高的測試效率。

高壓發(fā)生器：電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05%
工作溫度：15℃至30℃ 濕度：80%
電源：交流220V5V 
外型尺寸：670mm470mm370mm
測量倉：520mm370mm105mm
重量：45Kg
低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br1ppm,Pb2ppm,Cl15ppm

XRF檢測儀供應(yīng)：從儀器的硬件與軟件在許多細(xì)節(jié)都進(jìn)行了改進(jìn)，使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高，增加了世創(chuàng)的250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達(dá)到更高水平的程度。
XRF檢測儀供應(yīng)優(yōu)點
a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
XRF檢測儀供應(yīng)特點
1、高度自動化的分析，省力省時
適合原材料、新材料、產(chǎn)品的研究及管理等分析，可對多種樣品進(jìn)行從微量到高含量的分析
僅需約1分鐘即可完成1個樣品中36種元素的定量分析，由于儀器整機的高穩(wěn)定性充分保證了全自動無人管理分析，可以節(jié)省人力與
運行費用。配制單道掃描型分光器，可以進(jìn)行自動定性分析的元素判別，廣泛應(yīng)用于研究分析。
2、生產(chǎn)流程的管理分析
可快速獲得分析結(jié)果，經(jīng)數(shù)據(jù)處理后，可進(jìn)行質(zhì)量檢驗、規(guī)格判斷等，應(yīng)用于生產(chǎn)管理分析（特別是爐前分析）。
3、質(zhì)量控制
迅速分析從生產(chǎn)線采集的樣品。將分析結(jié)果（配比計算）作為原料配制的控制數(shù)據(jù)進(jìn)行反饋，用于提高質(zhì)量及穩(wěn)定質(zhì)量。
應(yīng)用領(lǐng)域
鋼鐵
生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金鋼、爐渣、礦石、鐵合金、特種鋼、表面處理鋼板、電鍍液
有色金屬
銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、貴金屬
建筑材料
水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、磚
電子/磁性材料
半導(dǎo)體、光磁盤、磁鐵、電池、線路板、電容
化學(xué)工業(yè)
無機/有機產(chǎn)品、化學(xué)纖維、催化劑、涂料、顏料、品、化妝品、洗滌劑石油/煤炭
石油、重油、潤滑油、樹脂、煤炭、焦炭
農(nóng)業(yè)、食品原料
土壤、肥料、植物、食品

利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺：精細(xì)的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸：550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
X熒光光譜儀技術(shù)已成功應(yīng)用于環(huán)境、食物鏈、動植物、農(nóng)產(chǎn)品、人體組織細(xì)胞及、生物材料、組織細(xì)胞、試劑、動植物、代謝產(chǎn)物中的無機元素測定。
X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至，檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征，通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優(yōu)點
a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
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