天瑞能量色散X熒光光譜儀EDX 3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、無損、直觀及環保特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果完全符合國標GB-7《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-43《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。
性能特點
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析和識別模型
高信噪比的電子線路單元
全元素測試X熒光分析軟件
與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖
采用世界上的SDD硅漂移探測器，分辨率至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，輕松實現精小部位的測試
精選全球組件組件
真空腔
在分析低含量的輕元素時，必須使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。
真空泵（選配）
極限真空：6×10-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
測量對象狀態：粉末、固體、液體
同時分析元素：30種元素同時分析
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
能量分辨率為：140±5ev
測量時間：60s-200s（可調）
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
環境溫度：10℃-30℃
環境濕度：35%-70%
輸入電壓：AC 110V/220V
管壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
樣品腔尺寸：334×500×80mm
外觀尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg
標準配置
美國Amptek原裝進口SDD探測器
數字多道分析器
放大電路、高低壓電源、X光管
計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配）
軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）
應用領域
黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。
分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等
貴金屬分析儀性能及配置
分析范圍 1ppmto99.99%
測量精度 RSD≤0.015% Au≥90%
測試形態固體、粉末、液體
光管電壓 5KV~50KV（USA）
高壓電源 0~50KVSpelln(USA)
光管管流 0μA~1000μA
攝像頭 高清攝像頭
濾光片 可選擇多種定制切換
探測器 SDD（USA）
分辨率 ±5eV
多道分析器 DMCP
樣品腔尺寸310*280*60（mm）
測試時間 30sec~100sec
感興趣元素貴金屬 Au,Ag,Pt,Pd,Ru,Rh,W,Os,Ir,etc(等).
基本金屬 Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Cd,Sn,Pb,etc（等）.
分析軟件FP定性定量分析軟件
外部尺寸380*372*362（mm）
重量 31Kg
儀器環境要求
環境溫度15°C~30°C
相對濕度35%~75%
電源要求AC220V±5V,50/60HZ,附近無大功率電磁和振動干擾源
貴金屬分析儀
硬件特性：符合嚴格的防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式。探頭指標高，性能好，壽命長；全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高；配備高清晰的攝像定位系統，測量更直觀、方便、快捷。配置固定樣品用多軸向夾具。
激發源：Mo的X光管風冷（無）
測量點尺寸：1～2mm
樣品室：長400mm×寬：300mm×高：0～90mm樣品放大成像系統
軟件：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算
計算機：選擇配置
檢測器：固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路
其它規格：
電壓：100～127或200～240V，50／60Hz
功率：120W
處尺寸：500mm＊500mm＊400mm
重量：48kg
技術指標
分析范圍：1％～99.99％
測量時間：自適應
測量精度：±0.1％
測試環境：常溫常態
分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD、W
X射線源：X射線光管
高壓器：4～50Kv
分析：多通道模擬
操作系統：Windows2000／Me／XP
鍍層測量：
鍍層厚度范圍＜30μm
可測量元素種類：Au、AG、PT、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
測量層數：5層
測量精度：0.03μm
天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能到。采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果完全符合國標GB/T 43-2000要求。
黃金貴重，儀器貴精。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點在于超高度、超高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡單！
性能優勢
超高分辨率，世界：
采用世界上的SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高度，性能優：
使用25mm 2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。
小準直器，輕松實現精小部位測試：
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。
一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。
技術參數
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.02％（含量96％以上）
長期工作穩定性為0.05％（含量96％以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：139±5eV
儀器配置
樣品平臺
信噪比增強器
SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質量：45Kg
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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