X射線熒光光譜儀(真空型)配置真空測試系統以及SDD(硅漂移)探測器,元素測試范圍更廣、檢出限更低、數據穩定性更好。廣泛應用于電子、電器、塑膠塑料、五金、玩具、包裝印刷以及產品等公司內部進行質量把控。適用于ROHS檢測、鹵素測試、玩具重金屬檢測和合金元素分析等各領域使用。
探測器:美國Amptek SDD探測器,高速脈沖分析系統;
2、高壓電源:美國Spelln (50kv/);
3、X射線管:新型X光管;
4、能量分辨率:140±5ev;
5、元素分析范圍:鈉(Na)到鈾(U);
6、分析含量:1ppm到99.99%;
7、測量時間:60—300s;
8、交流220v供電設備,1KVA交流凈化穩壓電源;
9、工作溫度:10—30℃;
10、測量條件:大氣環境;
適應各種合金成分分析
高分辨率高穩定性探測器
可靠、穩定高壓電源和X光管,測試結果穩定、準確
、準確、多元的分析軟件和分析方法
軟硬結合的防設計
自動設置參數和濾光片
操作簡單,一鍵式操作設計
快速無損分析樣品
超溫保護,超載保護
無需耗材

X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為:利用低能X光激發待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率; 采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比; 采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性; 利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;采用相似自動分類技術使分類更準確,有效地克服基效應對測量帶來的影響;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量薄至0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測

設備可以有效的對檢測、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩等引起土壤及固廢污染:主要來自廠礦排放的含廢水,能在土壤中長期存在;鎘、鉛污染主要來自冶煉排放和汽車廢氣沉降,如公路兩側的土壤易受鉛的污染;土壤的污染主要來自大量用作、劑、 殺鼠劑、除草劑和硫化礦產的開采、選礦、冶煉。
l 土壤重金屬普查:
超高精度分析,微量金屬元素成分盡在掌握。可以對各類居住用地、商業用地、工業用地等一級二級用地進行大量的土壤重金屬分析普查
l 大量土壤重金屬污染樣篩查
通過自動進樣器對大量污染樣器行自動分析。可以在很短的時間內圈點重點土壤污染區,進行重點優選治理。快速分別污染區與非污染區。整體提高了篩查生產效率,極大的減少化驗和運輸費用。
l 高性能配件提升效果
選用自主研制的數字多道及原裝進口超高分辨率探測器,提高設備的穩定性及元素之間的相互干擾,并提高了元素的檢出限。
SEE 100
SEE 100屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司的產品,設備采用了能量色散X射線熒光光譜技術實現土壤中微量金屬有害元素的快速檢測,設備采用了的探測器和激發源等硬件配置。SEE 100熒光光譜儀,能夠快速、準確地分析土壤中金屬元素;K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Zr、Cd、Hg等元素的檢出限和定量限完全滿足HJ 780-2015環境保護標準要求。
技術指標
產品型:SEE 100
產品名稱:土壤重金屬分析儀
測量元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測30種以上元素
測量時間:60秒-300秒
探測器能量分辨率為:可達125eV
管壓:5KV-55KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕度:35%-70%

天瑞儀器新研發的儀器,針對于水泥行業,礦產行業等研發出來的,內置自動轉盤,可同時測試多個樣品,操作簡單方便
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器。
抽真空樣品腔,有利于低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術指標
元素分析范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:ppm—99.99%(不同材質,分析范圍不同)
同時分析元素:同時可以分析30種以上元素
檢測限:RoHS指令規定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢出限達ppm級
測量鍍層:鍍層厚度測量薄至0.005微米
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60秒—200秒
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度:≤70%
工作電壓:AC 110V/220V
標準配置
超薄端窗X光管
電制冷UHRD探測器
內置高清晰攝像頭
光路增強系統
可自動切換型準直器和濾光片
加強的金屬元素感度分析器
外觀尺寸: 510×589×350 mm
樣品杯尺寸(10個):40.7×26mm
重量:55Kg
應用領域
水泥檢測
鋼鐵和有色金屬檢測
礦料分析
RoHS檢測
http://www.wjtrhx.com