ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
根據(jù)優(yōu)化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX 2000C。 
應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能優(yōu)勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實現(xiàn)更高的測試效率
儀器配置:
移動樣品平臺 
信噪比增強器 
電制冷Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
新型X光管 
計算機及噴墨打印機

抽真空的ROHS檢測儀和其它的非抽真空的ROHS檢測儀大的區(qū)別在于其多了一個真空泵的配置，在其檢測環(huán)鏡里是真空的狀態(tài)，這減少了空氣對一些輕元素的干擾，提高了檢測限，也提高的檢測的精準度和穩(wěn)定性。
抽真空EX7900參數(shù)：
產品型號：EDX 7900
產品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性） 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數(shù)字多道技術信噪比增強器 SNE光路增強系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元 內置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩(wěn)譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結構90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵
應用領域
ROHS檢測，無鹵檢測，合金檢測、全元素成份分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素

性能優(yōu)勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實現(xiàn)更高的測試效率，高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
技術指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重復性：0.05％（含量96％以上） 
穩(wěn)定性：0.05％（含量96％以上）

對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網(wǎng)絡法、經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于：五金、接插件、電子，電氣，連接器，電鍍，PCB，塑料，皮革，鞋材等來料的ROHS分析，重金屬分析。
產品特點：
1、從硫（S）到鈾（U）的快速元素分析；
2、檢測靈敏度高；
3、測量時間短；
4、彩色CCD系統(tǒng)用于樣品圖像觀察；
5、有多種規(guī)格的準直器和濾光片選用，自動切換，滿足各種物質測試方式應用；
6、電制冷探測器，提高測量穩(wěn)定性，提高分析的準確性，無需耗材；
7、機械結構簡單，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，經驗系數(shù)法、網(wǎng)絡法、基本參數(shù)法；
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身。流水線型外觀，美觀，儀器內部空間大樣品腔，儀器內部通風性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾；
10、超短光路設計，風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散熱更好，良好的散熱系統(tǒng)，更能保證儀器的超長使用，并能有效的X光管的壽命；
11、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，樣品成像準直系統(tǒng)，實現(xiàn)對樣品的準確點測；
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成，設置了自動防護開關，以確保用戶使用。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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