分析范圍0-50微米
分析精度5%
較薄測(cè)試0.005微米
儀器架構(gòu)上照式
儀器重量90公斤
分析時(shí)間30S
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
★進(jìn)口高精度傳感器,保證了測(cè)試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
★測(cè)量頭自動(dòng)升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式,更方便客戶(hù)選擇
★配備微型打印機(jī),數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
★打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果,方便用戶(hù)分析數(shù)據(jù)
★儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果,隨時(shí)查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶(hù)快速標(biāo)定設(shè)備
★測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器,可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量,人為誤差小
★軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析,準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶(hù)
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

昆山市市場(chǎng)局通過(guò)走訪座談、問(wèn)卷調(diào)查等方式,篩選了多家企業(yè),選取了天瑞儀器作為商業(yè)秘密示范點(diǎn)建設(shè)單位。會(huì)上,市場(chǎng)局就我公司成為昆山商業(yè)秘密保護(hù)示范點(diǎn)給予了充分肯定和高度評(píng)價(jià),并為構(gòu)建完善的商業(yè)秘密保護(hù)系統(tǒng)提出了寶貴的意見(jiàn)和建議,旨在進(jìn)一步加強(qiáng)對(duì)商業(yè)秘密的管理,以促進(jìn)我公司健康、穩(wěn)步、飛躍發(fā)展。

鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
2、性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器:分辨率低至eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺(tái)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
2017年3月,收購(gòu)磐合科儀。
http://www.wjtrhx.com