分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時(shí)間30秒
重復(fù)性0.1%
電源電壓220V
EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析,滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。通過(guò)自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng),雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)、電子通訊、新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等
金屬測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng)
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對(duì)各種板材和加工零件作測(cè)量,另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、、航各個(gè)領(lǐng)域。
1)工件表面粗糙度過(guò)大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無(wú)法接收到回波。對(duì)于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬,使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測(cè)厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)。可選用小管徑探頭(6mm),能較的測(cè)量管道等曲面材料。
(3)檢測(cè)面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無(wú)法接受到底波。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過(guò)時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒(méi),造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。
(5)探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹(shù)脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。
(6)被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無(wú)規(guī)則變化,在極端情況下甚至無(wú)讀數(shù)。
(7)被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
(8)當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時(shí),顯示值約為公稱厚度的70%,此時(shí)可用超聲波探傷儀或者帶波形顯示的測(cè)厚儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

天瑞儀器在X射線熒光光譜儀行業(yè)屢創(chuàng)輝煌,譬如,生產(chǎn)的食品重金屬快速檢測(cè)儀EDX 3200S PLUS X,采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測(cè),操作簡(jiǎn)單,自動(dòng)化程度高,可同時(shí)檢測(cè)24個(gè)樣本;在多年同時(shí)式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)品化基礎(chǔ)上,在國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專項(xiàng)資金支持下,融合的科技創(chuàng)新和發(fā)明,推出了國(guó)內(nèi)臺(tái)商業(yè)化順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀——WDX 4000,為土壤重金屬檢測(cè)提供新支持;成功研發(fā)EXPLORER手持式能量色散X射線熒光光譜儀,促進(jìn)了儀器的小型化與便攜化等。
今后,天瑞儀器將繼續(xù)以“行業(yè)”為目標(biāo),不斷提升技術(shù)水平,使國(guó)產(chǎn)儀器媲美國(guó)外,走向國(guó)際。同時(shí),天瑞儀器著眼于日益嚴(yán)峻的環(huán)保形勢(shì),積極調(diào)整產(chǎn)品結(jié)構(gòu),致力于環(huán)保解決方案的提供,守護(hù)碧水藍(lán)天。與時(shí)俱進(jìn)開(kāi)拓創(chuàng)新,用科學(xué)技術(shù)服務(wù)于國(guó)家,服務(wù)于,是每

X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見(jiàn)金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線,探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過(guò)模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過(guò)數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國(guó)內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),結(jié)合的特色,開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。
我公司新研制的X熒光測(cè)厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液厚度的測(cè)量。
1. 儀器特點(diǎn):
Ø 同時(shí)分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度;
Ø 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度;
Ø 無(wú)需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過(guò)程;分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ;
Ø 采用的探測(cè)器技術(shù)及的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠;
Ø 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測(cè)試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示;
Ø 采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像;
Ø 采用電動(dòng)控制樣品平臺(tái),可以進(jìn)行X-Y-Z的,準(zhǔn)確方便;
Ø 采用雙激光對(duì)焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測(cè)量位置;
Ø 度高,穩(wěn)定性好,故障率低;
Ø 采用多層屏蔽保護(hù),安全性可靠;
Ø WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,特的分析方法,完備強(qiáng)大的功能,操作簡(jiǎn)單,使用方便, 分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù);
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置
X熒光測(cè)厚儀的X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置具有可容納各種形態(tài)被測(cè)樣品的樣品室。
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。
平臺(tái):X-Y-Z采用電動(dòng)方式,實(shí)用方便。

2016年7月28日,“2016天瑞儀器合作伙伴峰會(huì)” 在昆山國(guó)際會(huì)展酒店順利召開(kāi)。此次峰會(huì)為期兩天,天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士、副總經(jīng)理黎橋先生、以及來(lái)自全國(guó)各地的天瑞儀器合作伙伴參加了此次峰會(huì)。此次峰會(huì)以“合作共贏 共成長(zhǎng)”為主題,旨在通過(guò)此次峰會(huì)加深天瑞儀器與合作伙伴的合作關(guān)系,增進(jìn)了解、促進(jìn)交流,共同發(fā)展。8日上午9點(diǎn),在天瑞儀器副總經(jīng)理黎橋的熱情開(kāi)場(chǎng)下,本次合作伙伴峰會(huì)正式拉開(kāi)了帷幕。隨后,天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士致辭,劉博士首先對(duì)出席此次峰會(huì)的合作伙伴代表表示熱烈歡迎, 對(duì)全國(guó)各地合作伙伴長(zhǎng)期以來(lái)對(duì)公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感謝。希望通過(guò)此次峰會(huì)能夠讓更多合作伙伴全面深入的了解天瑞儀器,增進(jìn)互信,與天瑞儀器一起實(shí)現(xiàn)合作共贏。劉博士以其幽默風(fēng)趣的語(yǔ)言和充滿的致辭贏得臺(tái)下陣陣掌聲此次峰會(huì)還特邀了天瑞儀器的多年合作伙伴,武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸錦潤(rùn)副總經(jīng)理及東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理作為合作伙伴代表,在峰會(huì)上發(fā)表講話。
武漢天虹環(huán)保產(chǎn)業(yè)股份有限公司陸總在發(fā)言中表示:國(guó)產(chǎn)儀器經(jīng)過(guò)這些年的迅猛發(fā)展,在很多產(chǎn)品的技術(shù)上都不遜于進(jìn)口儀器,國(guó)人的“外國(guó)的月亮比較圓”的思想需要改一改。天虹環(huán)保與天瑞儀器保持了多年的合作友誼,天瑞儀器在業(yè)內(nèi)也良好的口碑和極高的品質(zhì)保證。東莞市四通環(huán)境科技有限公司袁建洋總經(jīng)理也在發(fā)言中表達(dá)了對(duì)天瑞儀器的肯定和共創(chuàng)未來(lái)的美好信心。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
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