ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設(shè)備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)優(yōu)化和硬件上進一步高質(zhì)設(shè)計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節(jié)省了產(chǎn)品的成本費用，使得成本降低20%多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產(chǎn)品。成為很多小型工廠的。在應(yīng)用上屬于通用型產(chǎn)品，應(yīng)用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學(xué)或物理性質(zhì)都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設(shè)備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。

優(yōu)化散熱設(shè)計，散熱效果更好；
內(nèi)置高清攝像頭，準確的觀察樣品放置位置；
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計，采用流線體的整體化設(shè)計，儀器時尚；
采用探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低；
采用SES信號增強處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更；
一鍵式自動測試，使用更簡單，操作更方便，界面更人性化；
七種光路校正準直系統(tǒng)，能根據(jù)不同樣品自動切換；
一體化散熱設(shè)計，使整機散熱性能得到較大提高，保證了核心部件的運行穩(wěn)定；
機芯溫度技術(shù)，保證X射線源的可靠運行，使用壽命長，降低使用成本；
多重儀器配件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定；
鹵素用測試軟件，標準視窗設(shè)計，操作方便；
本機采用USB接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準確高速有效的傳輸。

rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術(shù)進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發(fā)產(chǎn)生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導(dǎo)體探測技術(shù)可以檢測到熒光值，結(jié)合現(xiàn)代計算機技術(shù)，通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)函數(shù)，算出待測物品的元素含量。
特的激發(fā)X光源
激光X光源、樣品激發(fā)裝置和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設(shè)計和雙引擎設(shè)計，并結(jié)合使用多組濾片和多組光管激發(fā)材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設(shè)備中具有的元素檢出限。
大器穩(wěn)重、準確無損
大樣品腔設(shè)計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術(shù)，使測試更加穩(wěn)定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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