XRF產品原理和參數詳細介紹，XRF技術說明和資料請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供XRF光譜儀報價和培訓手冊。XRF由于無需化學前處理，快速分析，一鍵測試操作簡單的特點，以及適用范圍廣德優勢深受實驗室人員的歡迎。
完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應用新一代的高壓電源和X光管，提供了產品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測試效率，并優化產品性能和提高防護等級
不添加任何硬件設施既可升級分析功能，方便靈活的隨未來發展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低
檢測時間短，可以大大提高工作效率
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率

XRF優點、缺點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點
a）難于作分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標:
測量元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
測量時間：1s或以上 
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換 
濾光片：4種濾光片自由切換 
樣品觀察：高清工業攝像頭 
環境濕度：≤70
環境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
儀器配置:
X-SDD探測器 
數字多道分析系統 
X射線源 
高低壓電源
準直器濾光片系統
精密移動平臺
光閘系統
樣品觀測系統 
電子控制系統 
計算機及噴墨打印機
測試實例:
使用EDX 9000C儀器對汽車配件玻璃樣品進行測試，測試時間1秒，其測試譜圖和數據如下圖：
使用一秒時間能完成測試，且測試結果精度滿足測試需求。使用EDX 9000C儀器在滿足測試精度的基礎上可以大大 
的縮短測試時間。
EDX4500P應用領域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素、紅磷管控）
EDX 4500P  X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對ROHS重金屬元素以及磷元素進行快速、準確、無損分析。
紅磷作為阻燃劑來管控，雖然暫時并未納入RoHS管控，但是目前限于市場要求，很多國際客戶如松下、索尼、三星、LG、海爾等都對此對紅磷要求。我司推出一款針對ROHS+無鹵+無磷儀器EDX4500P.該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
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