ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
抽真空的ROHS檢測儀和其它的非抽真空的ROHS檢測儀大的區別在于其多了一個真空泵的配置，在其檢測環鏡里是真空的狀態，這減少了空氣對一些輕元素的干擾，提高了檢測限，也提高的檢測的精準度和穩定性。
抽真空EX7900參數：
產品型號：EDX 7900
產品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 分析精度：0.05 （含量高于96以上的樣品、21次測試穩定性） 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測量對象狀態：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環境溫度：15℃-30℃ 環境濕度：35-70樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數字多道技術信噪比增強器 SNE光路增強系統 高信噪比電子線路單元 內置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結構90mm×70mm的狀態顯示液晶屏真空泵
應用領域
ROHS檢測，無鹵檢測，合金檢測、全元素成份分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素

玩具法規在全世界范圍內不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關于玩具標準。這些標準對于玩具企業來說，執行這些標準責無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設備，X熒光光譜儀是經濟有效的檢測設備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還節省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業倡導綠色生產過程中必不可少的檢測工具。

對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于：五金、接插件、電子，電氣，連接器，電鍍，PCB，塑料，皮革，鞋材等來料的ROHS分析，重金屬分析。
產品特點：
1、從硫（S）到鈾（U）的快速元素分析；
2、檢測靈敏度高；
3、測量時間短；
4、彩色CCD系統用于樣品圖像觀察；
5、有多種規格的準直器和濾光片選用，自動切換，滿足各種物質測試方式應用；
6、電制冷探測器，提高測量穩定性，提高分析的準確性，無需耗材；
7、機械結構簡單，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，經驗系數法、網絡法、基本參數法；
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身。流水線型外觀，美觀，儀器內部空間大樣品腔，儀器內部通風性優，并有效屏蔽電磁干擾；
10、超短光路設計，風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散熱更好，良好的散熱系統，更能保證儀器的超長使用，并能有效的X光管的壽命；
11、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測；
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成，設置了自動防護開關，以確保用戶使用。

ROHS檢測儀主要性能優勢：
1、采用激發X光源，樣品激發結構和探測系統，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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