元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復性0.1
測試誤差15
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環境溫度15-30度
ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹,ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力,對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
優化散熱設計,散熱效果更好;
內置高清攝像頭,準確的觀察樣品放置位置;
打破傳統儀器直線的設計,采用流線體的整體化設計,儀器時尚;
采用探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數據分析準確且維護成本低;
采用SES信號增強處理系統,有效提高測量的靈敏度,讓測量更;
一鍵式自動測試,使用更簡單,操作更方便,界面更人性化;
七種光路校正準直系統,能根據不同樣品自動切換;
一體化散熱設計,使整機散熱性能得到較大提高,保證了核心部件的運行穩定;
機芯溫度技術,保證X射線源的可靠運行,使用壽命長,降低使用成本;
多重儀器配件保護系統,并可通過軟件進行全程, 讓儀器工作更穩定;
鹵素用測試軟件,標準視窗設計,操作方便;
本機采用USB接口,有效地保證了數據準確高速有效的傳輸。

相比之前的傳統的ROHS檢測儀,雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試,但需在硬件和軟件上做較大的改動,且成本較高,目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計,成本較高些,而天瑞的EDX1100在算法軟件上,將ROHS測試和鹵素測試一體化,兩者化二為一,等于是一個整體,在產品成本上大大得到了壓縮,也等于是直接讓利了客戶,相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺,EDX1100的一體化設計,成本至少降低了30,EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管,壽命提高了5000小時,在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器,廣泛應用于塑膠,五金,電子電器,化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 :硫(S)~鈾(U)測量時間:200S
檢出限:分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm含量范圍:1ppm~99.9穩定性:0.01管壓:5~50KV管流:≤1000uA探測器:SDD探測器,分辨率可達125eV準直器:6種準直器自動切換濾光片:5種濾光片自由切換樣品觀察:高清工業攝像頭環境濕度:≤70環境溫度:15℃~30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)

ROHS檢測儀主要性能優勢:
1、采用激發X光源,樣品激發結構和探測系統,提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限);
2、具有現代化的外觀,結構和色彩,上蓋電動控制開關,更人性化;
3、準直器,濾光片自動切換,可適應不同的樣品測試要求;
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭,樣品測量更靈活方便;
5、配備功能齊全的測試軟件。

對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能,特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于:五金、接插件、電子,電氣,連接器,電鍍,PCB,塑料,皮革,鞋材等來料的ROHS分析,重金屬分析。
產品特點:
1、從硫(S)到鈾(U)的快速元素分析;
2、檢測靈敏度高;
3、測量時間短;
4、彩色CCD系統用于樣品圖像觀察;
5、有多種規格的準直器和濾光片選用,自動切換,滿足各種物質測試方式應用;
6、電制冷探測器,提高測量穩定性,提高分析的準確性,無需耗材;
7、機械結構簡單,可靠;
8、定性定量分析算法:FP基本算法,經驗系數法、網絡法、基本參數法;
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計,更好地保障操作員的人身。流水線型外觀,美觀,儀器內部空間大樣品腔,儀器內部通風性優,并有效屏蔽電磁干擾;
10、超短光路設計,風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序,散熱更好,良好的散熱系統,更能保證儀器的超長使用,并能有效的X光管的壽命;
11、上照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求,樣品成像準直系統,實現對樣品的準確點測;
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成,設置了自動防護開關,以確保用戶使用。
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術,并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
http://www.wjtrhx.com