分析范圍0-50微米
分析精度5
較薄測試0.005微米
儀器架構上照式
儀器重量90公斤
分析時間30S
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

測厚儀產品特性
★進口高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機,數據實時顯示、自動統計、打印,方便快捷地獲取測試結果
★打印值、小值、平均值及每次測量結果,方便用戶分析數據
★儀器自動保存多100組測試結果,隨時查看并打印
★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備
★測厚儀配備自動進樣器,可一鍵實現全自動多點測量,人為誤差小
★軟件提供測試結果圖形統計分析,準確直觀地將測試結果展示給用戶
★配備標準RS232接口,方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸

測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

作為國內化學分析行業的,擁有多年累積的分析測試儀器的技術和實力,產品廣泛應用于有色金屬行業中的地質考察、礦產、冶煉、加工、實驗室研究、生產制造等環節。作為此次會議的協辦方,還特地安排了學者們來公司參觀考察,天瑞儀器總經理應剛熱情的接待了考察團一行。
2013年11月7日,時任國家環保部總萬本太來天瑞參觀,對天瑞儀器引領國產儀器的發展贊譽有加。
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