分析范圍0-50微米
分析精度5
較薄測試0.005微米
儀器架構(gòu)上照式
儀器重量90公斤
分析時(shí)間30S
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。

測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場,如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

為了進(jìn)一步促進(jìn)推進(jìn)我國有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)進(jìn)展與產(chǎn)業(yè)升級,促進(jìn)應(yīng)用范圍的不斷加深與擴(kuò)大,切實(shí)解決當(dāng)前本領(lǐng)域內(nèi)關(guān)注的熱點(diǎn)、焦點(diǎn)和難點(diǎn)問題;3月29日—3月31日,由中冶有色技術(shù)平臺(tái)、中冶有色技術(shù)網(wǎng)主辦,江蘇天瑞儀器股份有限公司(以下簡稱天瑞儀器)協(xié)辦的“有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)交流會(huì)”(以下簡稱交流會(huì))在昆山成功舉行。

此次天瑞儀器授牌為商業(yè)秘密保護(hù)示范點(diǎn),將有效地加大公司商業(yè)秘密保護(hù)力度,切實(shí)保護(hù)公司商業(yè)秘密核心知識(shí)產(chǎn)權(quán),更好的推動(dòng)公司的創(chuàng)新發(fā)展。今后,天瑞也將發(fā)揮出示范作用,配合,推進(jìn)更多示范點(diǎn)建設(shè),共同做好商業(yè)秘密保護(hù)工作。
2011年4月26日,在2011中國科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)上,天瑞儀器被授予“2010年度具影響力國內(nèi)儀器產(chǎn)商”及“2010年度網(wǎng)絡(luò)營銷獎(jiǎng)”。
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