元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復性0.1
測試誤差15
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環境溫度15-30度
ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹,ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力,對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
ROHS檢測儀主要性能優勢:
1、采用激發X光源,樣品激發結構和探測系統,提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限);
2、具有現代化的外觀,結構和色彩,上蓋電動控制開關,更人性化;
3、準直器,濾光片自動切換,可適應不同的樣品測試要求;
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭,樣品測量更靈活方便;
5、配備功能齊全的測試軟件。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管,比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時,為了壓縮成本,在產品結構優化和硬件上進一步高質設計,減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置,很大程度上節省了產品的成本費用,使得成本降低20多,直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產品,應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測,EDX5500對被檢測材料的種類,化學或物理性質都沒有限制,無論是成品,或半成品,無論是金屬,塑膠,皮革,化工,鞋材,合成料,固體,液體,粉末等,都能準確,無損,快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器,廣泛應用于塑膠,五金,電子電器,化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 :硫(S)~鈾(U)包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間:200S
配新算法的ROHS分析軟件,鹵素分析軟件,材料成份分析軟件,軟件算法專利為德國。
檢出限:分析檢出限可達1ppm。含量范圍:1ppm~99.9穩定性:0.01管壓:5~50KV管流:≤1000uA探測器:SDD探測器,分辨率可達135eV準直器:10種準直器自動切換濾光片:6種濾光片自由切換樣品觀察:高清工業攝像頭環境濕度:≤70環境溫度:15℃~30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)

RoHS適用行業
1.大型家用電器:大型制冷器具、冰箱、冷凍箱、其它用于食品制冷、保鮮和儲存的大型器具等。2.小型家用電器:真空吸塵器、地毯清掃機、其它清潔器具、用于縫紉、編織及其它織物加工的器具等。3.信息和通訊設備:數據處理器、個人計算機、打印機、復印設備、電氣電子打字機、臺式和袖珍計算器等。4.消費類產品:收音機、電視機、錄象機、錄音機、高錄音機、功放機、音樂儀器、其他記錄或復制聲音、圖象的產品或設備。5.照明設備:熒光燈具(家用的照明設備除外)、直型熒光燈、緊湊型熒光燈、高亮度放電燈等。6.電氣電子工具:電鉆、電鋸、縫紉機,對木材、金屬或其它材料進行車削、銑、砂磨、研磨、鋸削、切割、剪切、鉆孔、沖孔、折疊、彎曲或類似加工的設備等。7.玩具、休閑和運動設備:電動火車或、手持電子游戲機、電子游戲機、用于騎自行車、潛水、跑步、劃船等的測算裝置;帶有電子或電氣元件的運動設備。8.設備(被植入或被感染的產品除外):放射設備、心臟用設備、裝置、肺呼吸機、核設備等。9.監測和控制儀器:煙霧探測器、發熱調節器、溫控器、家用或實驗室設備用測量、稱重或調節器具、工業安裝(如在控制板上)中所用的其它儀器。10.自動售賣機:熱飲料自動售賣機、瓶裝或罐裝熱飲料或冷飲料自動售賣機、固體產品自動售賣機、錢票自動售賣機、所有自動送出各類產品的器具。說明:目前第八 、九類設備、監測和控制儀器暫不受RoHS指令限制、但是設備和設備及其零部件自2014年7月22日起應符合RoHS2.0標準要求。

EDX5600是國內應用多的一款設備,除了較高的性價比外,其更人性化的設計軟硬件,使其在電子電器,通訊制造,家電配件,塑膠,五金等領域得到了廣泛的應用,采用新一代的鈹窗X大功率光管,壽命提高了5000小時,在應用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術參數
測量元素范圍 :硫(S)~鈾(U) 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件,只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設置,可短或長。一般測量時間:60S-200S
檢出限:分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍:1ppm~99.9穩定性:0.01 管壓:5~50KV管流:≤1000uA探測器:半導體電子制冷探測器,分辨率可達165eV準直器:8種準直器自動切換濾光片:4種濾光片自由切換樣品觀察:高清工業攝像頭環境濕度:≤70環境溫度:15℃~30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術,并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
http://www.wjtrhx.com