元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復性0.1
測試誤差15
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環境溫度15-30度
ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹,ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力,對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
優化散熱設計,散熱效果更好;
內置高清攝像頭,準確的觀察樣品放置位置;
打破傳統儀器直線的設計,采用流線體的整體化設計,儀器時尚;
采用探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數據分析準確且維護成本低;
采用SES信號增強處理系統,有效提高測量的靈敏度,讓測量更;
一鍵式自動測試,使用更簡單,操作更方便,界面更人性化;
七種光路校正準直系統,能根據不同樣品自動切換;
一體化散熱設計,使整機散熱性能得到較大提高,保證了核心部件的運行穩定;
機芯溫度技術,保證X射線源的可靠運行,使用壽命長,降低使用成本;
多重儀器配件保護系統,并可通過軟件進行全程, 讓儀器工作更穩定;
鹵素用測試軟件,標準視窗設計,操作方便;
本機采用USB接口,有效地保證了數據準確高速有效的傳輸。

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準,它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》(Restriction
of Hazardous
Substances)。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施,主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準,使之更加有利于人體健康及環境保護。該標準的目的在于消除電機電子產品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質,并重點規定了鉛的含量不能超過0.1。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發布了《廢舊電子電氣》設備指令(簡稱《WEEE指令》)和《電子電氣功設備中限制使用某些有害物質指令》(簡稱《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》規定納入有害物質限制管理和報廢回收管理的有類102種產品,前七類產品都是我國主要的出口電器產品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設備、消費類產品、照明設備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設備、設備(被植入或被感染的產品除外)、監測和控制儀器、自動售賣機。

技術指標:
元素分析范圍:硫(S)~鈾(U)
分析含量:0.1ppm~99.9
重復性:0.1
穩定性:0.1
環境溫度:15℃~30℃
電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發機構
上蓋電動開關的大容量樣品腔
可自動切換的準直器,濾光片
高清晰CCD攝像頭
Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
計算機及噴墨打印機
X熒光分析軟件

相比之前的傳統的ROHS檢測儀,雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試,但需在硬件和軟件上做較大的改動,且成本較高,目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計,成本較高些,而天瑞的EDX1100在算法軟件上,將ROHS測試和鹵素測試一體化,兩者化二為一,等于是一個整體,在產品成本上大大得到了壓縮,也等于是直接讓利了客戶,相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺,EDX1100的一體化設計,成本至少降低了30,EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管,壽命提高了5000小時,在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器,廣泛應用于塑膠,五金,電子電器,化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 :硫(S)~鈾(U)測量時間:200S
檢出限:分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm含量范圍:1ppm~99.9穩定性:0.01管壓:5~50KV管流:≤1000uA探測器:SDD探測器,分辨率可達125eV準直器:6種準直器自動切換濾光片:5種濾光片自由切換樣品觀察:高清工業攝像頭環境濕度:≤70環境溫度:15℃~30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術,并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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