X熒光光譜分析儀產品詳細資料介紹，X熒光光譜分析儀性能參數和產品配置由江蘇天瑞儀器股份有限公司提供x熒光光譜儀銷售務。EDX6000B 是天瑞儀器新研發的一款儀器，可用于rohs鹵素檢測，鍍層厚度分析，金屬材料成分檢測，陶瓷元素分析，石灰石煤灰成分測試，水泥行業，礦產行業等，內置自動移動轉盤，可同時測試多個樣品，操作簡單方便。

薄窗大面積的原裝進口SDD探測器。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
元素分析范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm—(不同材質，分析范圍不同)
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
檢測限：RoHS指令規定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限高達ppm級
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005微米
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60秒—200秒
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度：≤70
工作電壓：AC 110V/220V