1.光譜分析儀（輻射計）系統優點
光譜分析儀（輻射計）系統采用的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術、精密陣列探測器電子驅動技術和寬動態線性技術，整個系統達到雜散低、動態范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統機械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計）系統組成

CMS光譜分析儀（輻射計）、積分球、精密交直流電源、校準定標系統及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計）系統參考標準（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數測量部分標準）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計）系統測量參數：  

色品坐標（x,y）、相關色溫、光通量、光效、能效指數（EEI）、能效等級、顯色指數、顏色質量量表、色品坐標（u,v）、色品坐標（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數等參數。

光譜儀，又稱分光儀，廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

直讀光譜儀OES1000采用光電倍增管（PMT）技術和獨特光路設計使其具有優能，尤其對真空紫外譜線（涉及C、P、S、B、Sn等元素）、常量和痕量含量元素的檢測有獨特優勢，是追求高性能測試用戶的。
全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒
軟件可對測試結果自動判定牌
儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低
原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑，測試過程安全、環保

技術性能及參數

1.分光室設計
帕邢-龍格裝置，1米焦距
根據測試需求分為真空型（真空度≤a）、空氣型兩種
恒溫控制（32℃±0.1℃）
材質鑄造，保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長范圍170-463nm
4.狹縫寬度
入射狹縫20μm，
出射狹縫為整體狹縫，寬度為35-75μm
5.光電倍增管
10級側窗型，熔融石英或玻璃外殼；
6.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
7.激發光源
高能預火花光源（HEPS），放電頻率100-900Hz，電極間距3-4mm
8.測光方式
采用光電倍增管檢測器測光，光電倍增管負高壓連續可調，傳統的分段積分法
9.控制系統
采用FPGA技術控制整個儀器的工作狀態
10.尺寸和重量
尺寸：1680(長)×1020(寬)×1(高)mm
重量：約500kg

應用領域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機械行業的研發、生產控制、質量檢驗等相關工作的傳統測試項目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩定、同時測試幾十種元素, 測試過程便捷、環保、低成本，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀的快速測試使研發、生產過程和質量更可控，幫助用戶提升產品的技術、質量水平；使相關流程加快，為用戶創造明顯的經濟效益和環保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業技術和質量水平的標志性設備。

當原子從較高能級躍遷到基態或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數；v及λ分別為所發射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。
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