Ux-2100RoHS檢測儀屬天瑞系列產品中的機型,三重射線防護系統;人性化操作界面;綜合應用經驗系數法、基本參數法V8.0分析軟件。元素測試范圍從S-U。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價鉻的Cr和無鹵指令中的Cl和Br元素。可完全滿足RoHS/WEEE/無鹵相關管控要求。精心設計的開放式工作曲線功能,特別適用于多材料的工廠制程控制。
天瑞獨創的譜圖對比功能,實時追蹤供應商物料發生變化并及時預警,對RoHS/無鹵及供應商管控具有無可比擬的優勢。
性能優勢:
1.三重射線保護(軟件、硬件、迷宮設計),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害;
2.大樣品倉設計,相對于傳統機型,在更小的主機內配置了更大空間;
3.采用新型的光路設計,大限度解決了空氣光路對測量Cl元素的影響,保證了氯(Cl)元素的檢出下限和穩定性;
4.新優化的V8.5分析軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能,大幅提高測量精度;
5.業內提供開放式工作曲線標定平臺,可為用戶量身定做佳的有害物質檢測和控制方案;
6.融合了一系列的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等;
7.國際的XRF分析軟件,融合了包括經驗系數法、基本參數法(FP法)等分析方法,全面保證測試數據的準確性;
8.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統計及格式要求;
9.可以提供六價鉻定量測試技術與附件、鍍層測厚和多元素分析軟件(用戶需另行購置);
10.多語種軟件界面可供選擇;
11.天瑞獨創的快速譜圖對析方法,供應商物料發生變化及時預警功能。
儀器技術指標:
1、儀器尺寸:515(W)x405(D)x350(H)mm
2、樣品腔尺寸:380*340*55mm;
3、測試元素范圍:S-U中的元素
4、檢測范圍:1ppm-99.99
5、RoHS檢測限:Cd、Cr≦2ppm,Hg、Br≦0.25 ppm, Pb≦1 ppm,Cl≤15ppm
6、測試樣品類型:固體、粉末和液體
7、測量時間 :
快速測量:3s(系統自動判斷,s)
測量:120-400s ( 系統自動調整 )
8、佳分辨率:見探測系統詳細參數說明
9、準直器:Φ2mm、Φ5mm
10、濾光片:8種復合濾光片自動切換
11、CCD觀察:130萬像素高清CCD
12、樣品微動范圍:XY8mm
13、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
14、額定功率:350W
15、凈重:約40Kg
16、工作環境溫度:溫度15—30℃
17、工作環境相對濕度:≤85(不結露)
18、穩定性:多次測量重復性誤差小于0.1

天瑞儀器公司是全球生產高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX融匯合金分析技術,配備智能真空系統,利用低能光管配合真空測試,可以有效的降低干擾,提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。
EDX合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合號分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態為固體、液體、粉末等。
性能特點:
超薄窗X光管
針對合金的測試而開發的配件
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發待測元素,對Pb、S等微含量元素激發效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性;
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制;
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
標準配置:
合金測試超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構,力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
技術指標:
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:60秒-200秒
能量分辨率為:(140±5)eV
管壓:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
應用領域:
檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產品

本產品是在天瑞儀器多年XRF檢測技術和經驗基礎之上研發的一款新型X射線熒光光譜測試儀,采用新一代探測器及多道技術,實現超高計數率,1秒出結果,準確分析貴金屬含量。同時,具備二維移動平臺及高清工業攝像頭,實現樣品定位
性能特點
快,1秒鐘出結果
1、采用行業的極速探測器技術——(SDD)分辨率低至125eV
優勢:探測面積大(面積達25m㎡)、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高,探測信噪比更強,檢出限更低
2、采用行業的數字多道技術
優勢:有效提高輸出效率,實現超高計數率,保證采集有效計數率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準直濾光系統
優勢:使貴金屬的激發效率更高
4、光閘系統
優勢:樣品更換無需關閉高壓,提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
超高清晰工業攝像頭,更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制,多點連續測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能,可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米,針對超小樣品可準確聚焦檢測
可區分99.9及99.99黃金純度
可測量貴金屬中有害元素,鉛、鎘等
人性化的設計
更安全:X射線聯動安全裝置----光閘與聯動裝置互動;儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷:多點測試,點哪測哪
預約預熱:根據設定時間,儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能:客戶可預約儀器開機時間,同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態;同時可以實現預約關機,關機前可設定聲光提示
技術參數
測量元素范圍:硫(S)~鈾(U)
檢出限:分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍:2ppm~99.99
探測器:SDD探測器,分辨率低可達125eV
管流:≤1000uA
管壓:5~50kV
測量時間:1s或以上(可調)
濾光片:4種濾光片自由切換
準直器:8種準直器自動切換
樣品觀察:高清工業攝像頭
環境濕度:≤70
環境溫度:15℃~30℃
制冷方式:電制冷,無需任何耗材
輸入電壓:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
儀器配置
SDD探測器
數字多道分析系統
X射線源
高低壓電源
準直器濾光片系統
精密移動平臺
光閘系統
樣品觀測系統
電子控制系統
計算機及噴墨打印機
應用領域
ROHS檢測儀
鍍層測厚
合金分析
不銹鋼分析
鹵素檢測
首飾加工廠
金銀珠寶首飾店
貴金屬冶煉廠
質量檢驗部門
分析測試中心
典當行
貴金屬回收

測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量薄至0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
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