按照標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》中規(guī)定：表面處理層應(yīng)盡量與本體分離（鍍層），對于確定無法分離的鍍層，可對表面處理層進(jìn)行初篩（使用X射線熒光光譜儀（XRF）手段），篩選合格則不用拆分；篩選不合格，可使用非機(jī)械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶劑溶劑提取額）。對鍍層樣品進(jìn)行RoHS測試時，先用EDX0B儀器直接進(jìn)行鍍層RoHS測試，如果合格則樣品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。如果鍍層不合格將進(jìn)行下步拆分測試。


鍍層測厚儀與傳統(tǒng)方法的區(qū)別：

項目

傳統(tǒng)化學(xué)分析方法（滴定法、ICP、AAS等方法和設(shè)備）

X熒光光譜分析方法

分析速度

分析速度比較慢，快速的測試方法也要10～30min得到測試結(jié)果

一般只需1～3min就可以得到測試結(jié)果結(jié)果

分析效果

測試結(jié)果受人為因素影響很大，測試結(jié)果重復(fù)性不高

幾乎無人為因素影響，測試精度很高，測試重復(fù)性很高

勞動強度

全手工分析勞動強度大

X測試過程大部分由儀器完成，人員勞動強度極低。

同時分析元素數(shù)

一般一次只能分析一個元素

同時可分析幾十種元素

是否與化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)有關(guān)

受到待測元素的價態(tài)及化學(xué)組成的影響，樣品不同的價態(tài)和化學(xué)組成要采用不同的化學(xué)分析方法

純物理測量，與樣品的化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)無關(guān)

分析測試成本

需要大量的化學(xué)品，和較復(fù)雜的處理過程，測試成本比較高

無需要制樣，不需要化學(xué)品，樣品處理過程簡單，測試成本很低

人員要求

對測試人員需要進(jìn)行長期嚴(yán)格的培訓(xùn)，人員操作技術(shù)要求高

對人員技術(shù)要求很低，普通的工人經(jīng)過簡單的培訓(xùn)即可熟練操作使用

X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業(yè)研制的檢測金屬厚度的儀器，已經(jīng)在電鍍行業(yè)得到大規(guī)模的應(yīng)用，深受客戶**。儀器采用獨特的上照式機(jī)構(gòu)，能夠適應(yīng)各種不規(guī)則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實現(xiàn)X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。產(chǎn)品實際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片：


X射線膜層測厚儀技術(shù)參數(shù)：


儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導(dǎo)體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1

材：W

窗口：鈹窗

制冷方式：風(fēng)冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：4096道

7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)

濾光片：Al(可根據(jù)要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：U2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學(xué)尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統(tǒng)：

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實現(xiàn)樣品高度的自動對焦。



廠商實力：



江蘇天瑞儀器的發(fā)展得到了各級的大力支持與幫助，現(xiàn)任局、十二屆**會長，現(xiàn)任局、政協(xié)第十二屆全國會，時任局、副總理等各級多次來訪視察工作！



現(xiàn)任局、十二屆**會長等人來我公司調(diào)研

現(xiàn)任局常、政協(xié)第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器


江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計劃重點高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)重點軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽稱。產(chǎn)品具有國際的技術(shù)水平，X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認(rèn)定為“重點新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種齊全，為環(huán)境保護(hù)與安全、工業(yè)測試與分析及其它領(lǐng)域提供專業(yè)解決方案。



X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證



X射線鍍層測厚儀計量證書。



售后服務(wù)體系：



只要客戶方的系統(tǒng)存在問題，請即刻我司的售后服務(wù)電話由我司技術(shù)工程師遠(yuǎn)程指導(dǎo)用戶解決問題。免費服務(wù)電話：800-9993-800，24小時服務(wù)：400-7102-888

快速的現(xiàn)場服務(wù)

當(dāng)客戶方的系統(tǒng)被診斷為系統(tǒng)故障，而無法通過電話／電子郵件方式、遠(yuǎn)程撥入分析等手段解決時，我們的現(xiàn)場工程師會帶上相應(yīng)的系統(tǒng)工具和軟件立即趕赴現(xiàn)場進(jìn)行緊急維護(hù)。我司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即做出相應(yīng)，在遠(yuǎn)程不能解決問題的情況下，我司工程人員將在24小時內(nèi)趕到現(xiàn)場，48小時解決出現(xiàn)的問題，保證系統(tǒng)恢復(fù)正常運行。

定期訪問交流

定期訪問交流

在客戶系統(tǒng)運行過程中，我司將采取專人定期、不定期方式進(jìn)行訪問交流，調(diào)查項目實施和維護(hù)情況，聽取用戶意見，現(xiàn)場解決用戶存在問題，現(xiàn)場對系統(tǒng)進(jìn)行測試和優(yōu)化，及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)存在的問題或潛在的故障，提前消除隱患，確保系統(tǒng)安全、穩(wěn)定的運行，并對此系統(tǒng)運行質(zhì)量評估。

以上客戶服務(wù)響應(yīng)方式并不是相互孤立、互不相關(guān)的，而是以公司的客戶服務(wù)中心的組織結(jié)構(gòu)為依托，多種靈活的服務(wù)方式相互滲透、緊密結(jié)合成為完整統(tǒng)一的客戶服務(wù)故障響應(yīng)體系。這種體系經(jīng)多個大型工作項目的實際運行體驗，以被認(rèn)為是高效可行的故障響應(yīng)方式。

故障響應(yīng)

針對該項目我公司將以優(yōu)良的服務(wù)態(tài)度，我公司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即響應(yīng)，在遠(yuǎn)程能解決問題的情況下，30分鐘以內(nèi)響應(yīng)，12小時以內(nèi)完成提出的維修要求，緊急情況2小時內(nèi)趕赴現(xiàn)場搶修，一般情況下24小時到達(dá)現(xiàn)場。若48小時內(nèi)無法解決問題，需更換設(shè)備或送修，我方承諾提供備機(jī)，保證系統(tǒng)恢復(fù)正常運行。



客戶服務(wù)網(wǎng)點

天瑞儀器已在國內(nèi)近30個主要城市設(shè)立客戶服務(wù)網(wǎng)點，提品現(xiàn)場維護(hù)與技術(shù)支持服務(wù)。服務(wù)網(wǎng)點售后服務(wù)工程師全部經(jīng)過嚴(yán)格專業(yè)培訓(xùn)，具備豐富的產(chǎn)品安調(diào)與維護(hù)保養(yǎng)經(jīng)驗。客戶服務(wù)網(wǎng)點同時設(shè)置備品備件庫，根據(jù)周邊地區(qū)客戶使用的天瑞儀器產(chǎn)品數(shù)量，配置充足的常用備品備件；根據(jù)備品備件消耗情況，由上級主管區(qū)域服務(wù)中心動態(tài)調(diào)配補充備品備件庫。
X-ray熒光鍍層測厚儀介紹：
被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識，對每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。

PCB線路板主要有鍍金，鍍鎳，鍍銅，鍍銀，鍍錫等種類。其電鍍工藝流程如下：
浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級逆流漂洗→微蝕→二級浸酸→鍍錫→二級逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級逆流漂洗→鍍鎳→二級水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級純水洗→烘干。
對于PCB生產(chǎn)企業(yè)來說，厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本，又能滿足客戶需求，做到耐氧化、耐磨等。而X射線熒光鍍層測厚法是PCB工業(yè)檢測電鍍厚度的有效手段。下面介紹THick800A。-ray測厚儀采用上照式設(shè)計,符合電鍍產(chǎn)品的特點,滿足不規(guī)則樣品的測試.

X-ray測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：

五金電鍍厚度檢測，

首飾電鍍貴金屬厚度檢測，

電子連接件表層厚度檢測，

電鍍液含量分析。

電力行業(yè)高壓開關(guān)柜用銅鍍銀件厚度檢測，

銅鍍錫件厚度檢測，材料金屬鍍層厚度檢測。

銅箔鍍層厚度檢測，光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測，

鐵鍍鉻 鍍鋅 鍍鎳厚度檢測等。

產(chǎn)品計量：

13
售后服務(wù)：

X-ray測厚儀專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的新型高端儀器，已經(jīng)成為電力行業(yè)，PCB行業(yè)，貴金屬首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段，比傳統(tǒng)的電解法測厚儀具有更快的測試速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。

可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種先進(jìn)的分析方法，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

電力行業(yè)中高壓隔離開關(guān)應(yīng)用范圍相當(dāng)?shù)膹V泛，主要用于高壓線路無負(fù)載換接、斷路器等電氣設(shè)備與高壓線路之間的電氣隔離，其鍍層厚度會極大的影響開關(guān)導(dǎo)電性和使用壽命。因此，對相關(guān)部件表面鍍層厚度的測量就顯得尤為必要。

鍍銀層主要作用在于防止腐蝕，增加導(dǎo)電率、反光性和美觀。廣泛應(yīng)用于電器、儀器、儀表和照明用具等制造工業(yè)。例如銅或銅合金制件鍍銀時，須先經(jīng)除油去銹；再預(yù)鍍薄銀或浸入由氯化等配成的溶液中，進(jìn)行化處理，使在制件表面鍍上一層膜；然后將制件作陰極，純銀板作陽極，浸入由銀和所配成的電解液中，進(jìn)行電鍍。電器、儀表等工業(yè)還采用無氰鍍銀。電鍍液用硫代硫酸鹽、亞硫酸鹽、硫氰酸鹽、亞鐵等。為了防止銀鍍層變色，通常要經(jīng)過鍍后處理，主要是浸亮、化學(xué)和電化學(xué)鈍化，鍍貴金屬或稀有金屬或涂覆蓋層等。如何測量鍍銀層厚度對于整個產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要，天瑞儀器生產(chǎn)的鍍銀厚度測試儀是快速、準(zhǔn)確、無損檢測儀器，廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電子連接器、印制線路板、五金端子等產(chǎn)品中，產(chǎn)品得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

利用天瑞儀器的explorer5000鍍銀層測厚儀分析一系列銅鍍銀樣品，所得結(jié)果如下表。各個數(shù)據(jù)點相關(guān)系數(shù)為0.996，線性相關(guān)性非常好。當(dāng)銀厚度為1-30 μm 范圍內(nèi)，測量值與標(biāo)稱值平均誤差為0.6 μm， 30-60 μm 范圍內(nèi)平均誤差為 1.3 μm，相對誤差小于4，在可接受范圍以內(nèi)，測厚范圍可達(dá)1-60 μm。

五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
d邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著
涂鍍層測厚儀精度的影響有哪些因素？
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應(yīng)本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。


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