元素范圍從硫到鈾
含量范圍1ppm-99
分析時(shí)間30s-200s
誤差15
重復(fù)性0.1
電源電壓220V
溫度15-30度
重量45kg
預(yù)熱時(shí)間20分鐘
用途rohs物質(zhì)分析
天瑞x射線測(cè)厚儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹,天瑞x射線測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)和配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供x射線測(cè)厚儀thick800a
原理講解和產(chǎn)品說(shuō)明:利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加。

金屬測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng)
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對(duì)各種板材和加工零件作測(cè)量,另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、、航各個(gè)領(lǐng)域。
1)工件表面粗糙度過(guò)大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無(wú)法接收到回波。對(duì)于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬,使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測(cè)厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)。可選用小管徑專用探頭(6mm),能較的測(cè)量管道等曲面材料。
(3)檢測(cè)面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無(wú)法接受到底波。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過(guò)時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒(méi),造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶專用探頭(2.5MHz)。
(5)探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹(shù)脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。
(6)被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無(wú)規(guī)則變化,在極端情況下甚至無(wú)讀數(shù)。
(7)被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
(8)當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時(shí),顯示值約為公稱厚度的70,此時(shí)可用超聲波探傷儀或者帶波形顯示的測(cè)厚儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能出常見(jiàn)金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線,探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過(guò)模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)獨(dú)有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過(guò)數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國(guó)內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的先進(jìn)科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),結(jié)合的特色,開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。
我公司新研制的X熒光測(cè)厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液厚度的測(cè)量。
1. 儀器特點(diǎn):
? 同時(shí)分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度;
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度;
? 無(wú)需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過(guò)程;分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ;
? 采用先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù)及先進(jìn)的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠;
? 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測(cè)試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示;
? 采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像;
? 采用電動(dòng)控制樣品平臺(tái),可以進(jìn)行X-Y-Z的,準(zhǔn)確方便;
? 采用雙激光對(duì)焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測(cè)量位置;
? 度高,穩(wěn)定性好,故障率低;
? 采用多層屏蔽保護(hù),輻射安全性可靠;
? WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,獨(dú)特先進(jìn)的分析方法,完備強(qiáng)大的功能,操作簡(jiǎn)單,使用方便, 分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù);
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置
X熒光測(cè)厚儀的X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置具有可容納各種形態(tài)被測(cè)樣品的樣品室。
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。
平臺(tái):X-Y-Z采用電動(dòng)方式,實(shí)用方便。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
X射線測(cè)厚儀具有環(huán)保綠色安全的特性,不但還更環(huán)保而且對(duì)于人和環(huán)境的輻射更小。X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度.測(cè)量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進(jìn)行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測(cè)量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測(cè)量功能:自動(dòng)測(cè)量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
特長(zhǎng):
1.自動(dòng)對(duì)焦功能 自動(dòng)接近功能
在樣品臺(tái)上放置各種高度的樣品時(shí),只要高低差在80mm范圍內(nèi),即可在3秒內(nèi)自動(dòng)對(duì)焦被測(cè)樣品。由此進(jìn)一步提高定位操作的便捷性。
●自動(dòng)對(duì)焦功能 簡(jiǎn)便的攝像頭對(duì)焦
●自動(dòng)接近功能 適合位置的對(duì)焦
測(cè)量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進(jìn)行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測(cè)量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測(cè)量功能:自動(dòng)測(cè)量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
高分辨率 SDD
元素范圍: 鋁 - 鈾
樣品艙設(shè)計(jì):開(kāi)槽式
XY 軸樣品臺(tái)選擇:固定臺(tái)、自動(dòng)臺(tái)
x射線測(cè)厚儀是一種檢測(cè)儀器,以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。
x射線測(cè)厚儀是一種,以和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度,已達(dá)到要求的軋制厚度。今天我們主要來(lái)介紹一下x射線測(cè)厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法,希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個(gè)專用的計(jì)算機(jī)和高分辨率的彩色。可顯示整個(gè)系統(tǒng)的檢測(cè)、設(shè)定、偏差值;用戶通過(guò)軟件顯示頁(yè)面可直接控制和操作測(cè)厚儀。主操作頁(yè)顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護(hù)頁(yè)面顯示系統(tǒng)正常工作時(shí)各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長(zhǎng)度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很地通過(guò)操作終端的報(bào)表打印功能,打印出來(lái)以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有專用冷卻裝置,該裝置的關(guān)鍵部件,壓縮機(jī)組均采用進(jìn)口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經(jīng)久耐用等特點(diǎn)。通過(guò)C型架上進(jìn)出油口進(jìn)行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測(cè)頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個(gè)抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,高壓等級(jí)根據(jù)有所區(qū)別,加上具有的溫度自動(dòng)保護(hù)與功能,提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計(jì)、免維護(hù)設(shè)計(jì)方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測(cè)頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測(cè)頭,離子室設(shè)計(jì)具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點(diǎn)。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元,系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個(gè)立式控制臺(tái),是個(gè)系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計(jì)算中心;G型采用為控制計(jì)算中心。控制柜負(fù)責(zé)采集和處理從前置放大器傳來(lái)的,負(fù)責(zé)測(cè)厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機(jī)AGC系統(tǒng)的接口輸出,為軋機(jī)AGC系統(tǒng)提供測(cè)厚數(shù)據(jù)及控制。控制柜還提供整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場(chǎng)顯示器的顯示數(shù)據(jù)。
X射線測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格滿足鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。
2、性能優(yōu)勢(shì)
長(zhǎng)效穩(wěn)定X銅光管
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷
采用天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器(SNE)
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品
脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確
手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔,操作安全方便
三重安全保護(hù)模式
整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時(shí)尚
Fp軟件,無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量
3、技術(shù)指標(biāo)
分析范圍: Ti-U,可分析3層15個(gè)元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
分析精度:多次測(cè)量穩(wěn)定性可達(dá)1.
工作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
測(cè)量時(shí)間:40秒(可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整)
探測(cè)器分辨率:(160±5)eV
光管高壓:5-50kV
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30-70
準(zhǔn)直器:配置不同直徑準(zhǔn)直孔,小孔徑φ0.2mm

臺(tái)式x射線測(cè)厚儀可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱篫n,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè);金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行、首飾銷售和機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小,樣品激發(fā)佳)相結(jié)合,提供靈敏度
簡(jiǎn)單的元素區(qū)分:
通過(guò)次級(jí)射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
卓越的長(zhǎng)期穩(wěn)定性:
自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測(cè)量?jī)x器溫度變化并做修正,確保穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果
例行進(jìn)行簡(jiǎn)單快速的波譜校準(zhǔn),可自動(dòng)檢查儀器性能(例如靈敏性)并進(jìn)行必要的修正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
可在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)操作
堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
X射線測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。
應(yīng)用領(lǐng)域
X射線測(cè)厚儀
中文名:x射線測(cè)厚儀
測(cè)量精度:測(cè)量厚度的±0。1
測(cè)量范圍:0.01mm—8.0mm
靜態(tài)精度:±0.1或者±0.1微米
結(jié)構(gòu)組成
用戶操作終端
冷卻系統(tǒng)
X射線發(fā)射源及接收檢測(cè)頭
主控制柜
適用范圍
生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
2、性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維平臺(tái)
卓越的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
先進(jìn)的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1
SDD探測(cè)器:分辨率低至eV
采用先進(jìn)的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺(tái)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
★進(jìn)口高精度傳感器,保證了測(cè)試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
★測(cè)量頭自動(dòng)升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式,更方便客戶選擇
★配備打印機(jī),數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印,方便快捷地獲取測(cè)試
★打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果,隨時(shí)查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測(cè)厚儀配備專用自動(dòng)進(jìn)樣器,可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量,人為誤差小
★專業(yè)軟件提供測(cè)試圖形統(tǒng)計(jì)分析,準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

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