X射線金屬膜厚度檢測儀thick800a具有良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準。天瑞儀器X-ray鍍層測厚儀Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是一款上招式設計的，自帶三維移動平臺，XYZ可定點，在鍍層檢測中可謂大展身手。
技術指標
SDD半導體探測器：探測器輸入電壓：±12V，+5V，探頭窗口面積：25mm-2---，探頭窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探頭內制冷溫度：<-40℃。
X射線光管：管壓：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：鈹窗，制冷方式：風冷，工作溫度：≤75℃。
高壓發生器：輸入電壓：24V，輸入較大電流：5A，管壓：0-50kV，管流：0-2mA，燈絲較大電壓：5V
，燈絲較大電流：3.5A
MCA多道分析器：輸入電壓：±12V，+5V，采樣頻率：100 KHZ，脈沖幅度：0-7.6V，A/D位數：12位
分析道數：2048道
準直器系統：準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)，濾光片：Mo(可根據要求選配)
高清晰攝像頭：傳感器類型：CCD（彩色），接口：USB2.0，傳感器廠商：索尼，快門類型：面陣，光學尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感應度：0.58V（索尼標準）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
自動對焦系統：通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器
儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
樣品測試譜圖，高清，譜線明顯。：
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限。專業的400售后維修熱線，7*24小時在線，4小時響應，24小時上門服務。
售后服務：
公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務實、價格合理"的經營合作理念,為您提供快速優質的技術服務。產品送貨上門，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。
X射線熒光鍍層檢測儀，型號thick800a
制造廠商：江蘇天瑞儀器股份有限公司
產品圖片：
主要技術指標：
1、儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm
2、儀器重量：90kg
3、SDD半導體探測器：
探測器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm 2
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內制冷溫度：<-40℃
4、X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1mA
靶材：W靶
窗口：鈹窗
制冷方式：風冷
工作溫度：≤75℃
5、高壓發生器：
輸入電壓：24V
輸入較大電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2mA
燈絲較大電壓：5V
燈絲較大電流：3.5A
6、MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數：12位
分析道數：2048道
7、準直器系統：
準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)
濾光片：Mo(可根據要求選配)
8、高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：USB2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應度：0.58V（索尼標準）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
9、自動對焦系統：
通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實現樣品高度的自動對焦。
X-ray鍍層厚度分析儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。X射線鍍層分析儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用較廣泛的測厚儀器。工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點，已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。
X熒光鍍層厚度分析儀基本原理
鍍層原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。
產品性能特點和優勢：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
儀器結構圖：
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
thick800a-2
分析案例：
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。
鍍層譜圖
分析結果：
鍍層結果
天瑞一直致力于分析儀器事業，相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。
天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°優質服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供全方位的優質服務。
我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、回訪、巡檢等全過程、全方位、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
較短交貨時間
較快安裝
較短維修周期
較長保修期
較個性化服務
較低維護費用。
金屬鍍層厚度分析儀產品介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司專業生產銷售金屬鍍層厚度分析儀THICK800A用于銅鍍銀層厚度的測試。天瑞儀器作為國內第一家創業板上市的分析儀器嘗試，其主營產品Thick800A已經成為鍍層行業檢測的標準儀器，幾乎60的企業使用thick800a來檢測金屬鍍件的厚度。它的較薄測試達0.005微米，分析誤差在5以內。同時可分析多層電鍍，合金層電鍍，PCB鍍金，通信連接件，鍍鉻，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫的厚度。
儀器配準樣品臺：XY軸可控制、Z軸自動控制，可調高度為0-14cm
鍍層測厚儀，鍍層膜厚儀，電鍍膜厚儀，金屬鍍層膜厚儀，鍍層膜厚測試儀，X射線熒光測厚儀，X射線鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀，XRf膜厚測試儀，X-ray測厚儀，厚度測量儀器，X熒光光譜儀檢測金屬電鍍層厚度，國產XRF膜厚儀，鍍金層厚度測試儀，銅鍍銀測厚儀，鋅層測厚儀，鐵鍍鉻測厚儀，鐵鍍鋅測厚儀
技術參數：
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
天瑞儀器是全球著名的X射線熒光測厚儀品牌制造商，公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司三家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X射線熒光鍍層測厚儀滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度。定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準，良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。
同，儀路攜手志凌空，荊棘斬，齊心向前沖；
慶，歡歌笑語傾耳聽，眾心悅，來賀天瑞名；
華，廿五時光藍圖畫，舉目望，此身居高塔；
誕，初創之時行路難，唯志堅，誓把明月攬；
共，分析檢測把脈中，心連心，眾人勢如虹；
譜，各展所長鼎力助，再廿五，還與良辰??；
新，踏浪乘風破堅冰，看我輩，合力聚心行；
章，喜見前程燦爛光。愿百年，依舊世無雙
發展歷程：
2011年1月25日，天瑞儀器在深證創業板塊上市。股票代碼為300165。
2011年4月25日，天瑞儀器推出SUPER XRF 2400，其超微量元素檢測的獨特功能將傳統XRF性能提升數倍。
2011年4月26日，在2011中國科學儀器發展年會上，天瑞儀器被授予“2010年度較具影響力國內儀器產商”及“2010年度較佳網絡營銷獎”。
2011年5月18日，天瑞儀器董事長劉召貴博士喜獲**特殊津貼。
天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置：
此型號為Thick800a
詳細配置信息：
一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：
(1) X光管（牛津） (2)Si-PIN電制冷半導體探測器（美國AMPTEK）
(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(SPELLMAN)
(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置
(9) 鉛玻璃屏蔽罩
二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0
2.1 計算機、打印機各一臺
計算機（聯想，內存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220*處理器
打印機（佳能，彩色噴墨打印機）
2.2 資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
2.3 標準附件
準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）
（已內置于儀器中）
天瑞X射線膜厚測試儀產品圖片：
性能描述：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
天瑞X射線鍍層測厚儀使用環境：
環境溫度要求：15℃-30
環境相對濕度：<70
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾。
天瑞X射線鍍層測厚儀技術指標：
分析元素范圍：K-U
同時可分析多達5層鍍層
分析厚度檢出限較高達0.005μm
定位精度：0.1mm
測量時間：5s-300s
計數率：0-8000cps
Z軸升降范圍：0-140mm
X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖
樣 品 名
成分Ni()
鍍層Ni(um)
吊扣
100
19.321
吊扣2#
100
19.665
吊扣3#
100
18.846
吊扣4#
100
19.302
吊扣5#
100
18.971
吊扣6#
100
19.031
吊扣7#
100
19.146
平均值
100
19.18314
標準偏差
0
0.273409
相對標準偏差
0
1.425257
銅鍍鎳件測試值
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）較小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，儀器重量：30kg
應用領域
X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。
天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務體系：
軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供升級軟件，如需上門升級按技術服務條款收取相關費用；免費保修1年， 免費保修期內，維修相關費用全免；
技術服務的響應期限：提供較有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。
非乙方產品自身故障所造成的現場技術服務（如增加測試功能和數據校正等），乙方將按技術服務條款收取相關費用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協商解決。
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