X熒光光譜儀優點
a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
天瑞儀器x熒光光譜儀合格率，天瑞儀器x熒光光譜儀檢測重復性好，天瑞儀器x熒光光譜儀用途原理是將測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含量。天瑞儀器x射線分析儀主要用于檢測歐美rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量，適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內飾，設備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。天瑞儀器的edx0b是目前市場銷售量，產品合格率達的x熒光光譜儀產品！
規格參數
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.1（含量96以上）
長期工作穩定性為0.1（含量96以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
x熒光光譜儀廠家天瑞儀器實力展示：

江蘇天瑞儀器股份有限公司將以“x熒光光譜儀”的姿態，不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加先進的產品和更加滿意的服務，同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案，從而推動經濟快速全球化。目前公司已于2011年成功在深圳創業板上市，代碼300165。

天瑞儀器公司作為國內x熒光光譜儀制造廠商，專業的儀器展示中心，客戶參觀。
售后服務：專業/強大的分析測試中心為客戶提供便捷的數據服務/

江蘇天瑞儀器股份有限公司生產x熒光光譜儀產品銷售已擁有遍布全國的多個技術服務網點和全球100多家代理機構，我們的服務遍布全球每一個角落。公司成立專業的客戶服務中心，免費服務，即時快速的解決客戶問題，4小時響應，24小時：深圳分公司網點，昆山總部網點，天津技術網點，福建技術網點，浙江寧波技術網點，浙江溫州技術網點，陜甘寧技術網點，云貴川技術網點等十二大分區遍布國內。
客戶案例：
x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測試專門開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。
x熒光光譜儀xrf標準配置
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器SNE
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
三重安全保護模式
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm70mm的液晶屏
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
外形尺寸：660mm510mm350mm
樣品腔體積：320mm100mm
重量：65Kg
x熒光光譜儀xrf性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
針對合金的測試而開發的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產品信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發待測元素，對Pb、S等微含量元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
x熒光光譜儀xrf技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（1405）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
x熒光光譜儀xrf應用領域
檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產品，同時可以測試礦石成份、環保ROHS測試等，天瑞儀器作為3600H型X熒光光譜儀廠家，產品價格更優惠，質量更有保障，維護成本更低，為客戶降低了各方面成本。
X熒光光譜儀主要用途
X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。
近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。
大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70
電源：AC220V±10、50/60Hz
4．技術指標新高靈敏度探測器（分辨率達149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動選擇
樣品定位：微動載物平臺（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機
微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）軟件
定量分析：理論Alpha
臺式x熒光光譜儀介紹
臺式x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。
臺式x熒光光譜儀中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經過簡單的切割達到國產X熒光光譜儀分析的要求，只需表面拋光，液體樣品可以直接分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復雜。這里只對常見的固體和粉末樣品的制樣方法進行討論，液體樣品就不再討論。
臺式x熒光光譜儀使用中常見的問題及注意事項
1、過濾時有時會出現流動相漏液。可能的原因是濾膜放置不正確和接頭有點錯位，導致流動相從縫隙中漏出。
注意：操作時，應先向濾瓶內倒入少量流動相，觀察是否漏液并開始過濾，若未漏液，再向濾瓶中添加流動相。
2、超聲時，瓶外液體的液面應高于瓶內流動相的液面，否則流動相內的氣體可能無法排出液體，氣體仍然殘留在流動相內，以致開機排氣時無氣泡排出。
3、開機排氣結束后，應先將流動相流量調小，再關閉排氣閥，否則會導致柱壓瞬間升高超過壓力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色譜儀沖洗柱子時，應盡量避免使用純水流動相沖洗柱子，因為水極性強，會損害色譜柱，導致柱效下降。
5、沖洗色譜柱時，還可輔助以不同比例的混合流動相沖洗色譜柱，以沖出不同極性的殘留物質，但后還是要用純有機流動相沖洗色譜柱一段時間。
6、在實驗過程中會出現壓力超過上限或壓力偏高，有可能是柱內有殘留物質未被沖出，此時應用較大流速的有機流動相充分沖洗色譜柱。若條件允許，也可采用梯度洗脫的方式沖洗色譜柱。壓力過高也有可能是濾頭堵塞，此時可將濾頭取出放到有機溶劑中超聲。
7、若隔天或更長時間不使用LC液相色譜儀，應將兩流動相瓶中均倒入純的有機流動相（因為水流動相長時間不用會滋生，污染濾頭和色譜柱，導致下次開機使用時會出現鬼峰，基線不穩）。
8、進樣時所進樣品的體積應不小于色譜柱的大容積，且進樣時器里的氣泡一定要排出，不可將氣泡打進色譜柱。
臺式x熒光光譜儀由激發源和探測系統構成，可以產生X熒光來檢測各元素的特征X射線的強度，從而測定元素含量。臺式X熒光光譜儀的正確操作方法如下：
1、儀器采用X光管產生激發源，因此，在不使用時，儀器會自動將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源處理待機狀態。此時，儀器將不會產生任何射線，同時大大X光管的壽命。
2、在放置樣品時，只要開啟防護罩，儀器也自動將X光管停止，不再產生X射線，完全可以保護使用者的人身安全。
3、開啟、關閉儀器蓋子時，應輕開輕放。
4、設備使用的操作人員，必須要接受安全和操作培訓后，才可上機，以確保設備的安全操作與正確使用。
臺式X熒光光譜儀的操作人員應該養成正確的設備使用習慣，在使用中嚴格按照操作規程來對儀器進行操作。
臺式x熒光光譜儀是研究物與蛋白質相互作用的常用儀器。物與蛋白質相互作用后可能引起物自身熒光光譜和蛋白質自身熒光(內源熒光)光譜以及同步熒光光譜的變化，如熒光強度和偏振度的改變出現等，這些均可以提供物與蛋白質結合的信息。 臺式x熒光光譜儀對于一種未知發光性能的熒光粉來說，測試發射譜時，通常利用氙燈的強254nm發射來激發樣品。這時激發單色器就從氙燈發射出來的復合光中分出254nm的紫外光。該紫外光照射到熒光粉上，有可能激發熒光粉使其發射某種顏色的光。熒光粉發射的混合波長的光被發射單色器以單色光的形式一一鑒別釋放，同時利用PMT記錄相應的強度。
臺式x熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。目前XRF分析專家們已普遍走出了單純進行分析側試研究的范疇，廣泛開展了分析數據與所包含信息的相關性研究，試圖揭示出分析結果與及環境變化等的內在聯系，為診斷與預防、環境預測與治理等提供科學依據。
臺式x熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征輻射，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致輻射。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。
環保x熒光光譜儀應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。針對EDX 0B在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX 0E。

準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環境狀態下相等
性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您全方位防護
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05·穩定性0.05
技術參數
溫度適應范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg
元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序

應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業、貴金屬加工和首飾加工行業；銀
行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業

儀器配置
樣品平臺
SDD探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

天瑞儀器是一家以X熒光光譜儀為核心產品，兼顧光譜儀、色譜儀、質譜儀的研發生產銷售的高科技分析儀器制造商，公司主營行業RoHS檢測設備，x射線鍍層測試設備，合金分析儀器，色譜質譜儀器，食品安全檢測儀器，環境監測分析儀器等產品。天瑞儀器市值50億，公司年營業額4個億，在國內分析儀器行業**前茅！

天瑞儀器成功案列

天瑞儀器營業網點遍布全國 400客戶服務中心服務全球。
天瑞儀器早成立于西安清華分析儀器研究所，1992年進行股份制改造。公司產品系列100多種。天瑞儀器擁有遍布全國的三十多個技術服務網點和海外100多家代理機構。產品暢銷全球。
x熒光光譜儀主要特點
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠程控制-藍牙無線數據傳輸(或U)-電池可持續運作5小時-數據庫可無限擴充
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達到極限衍射的成像和光譜
8.數據庫可無限擴展
X熒光光譜儀X熒光光譜儀
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。
X熒光光譜儀分類
X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。


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